NineGameSports:芯片开封在失效分析中的应用案例分析
作者:九游体育发布时间:2025-02-02
Decap:即开封,也称开盖,开帽,是指将完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来 ,同时保持芯片功能的完整无损,为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试。通过芯片开封,我们可以更为直观的观察到芯片内部结构,从而结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。
开封方法及注意事项01激光开封主要是利用激光束将样品IC表面塑封去除,从而露出IC表面及绑定线。优点是开封速度快,操作方便,无危险性。02化学开封选用对塑料材料有高效分解作用的化学试剂,如发烟硝酸和浓硫酸。主要操作方法:将化学试剂滴入样品IC封装表面中,待聚合物树脂被腐蚀成低分子化合物,然后用镊子夹着样品,在玻璃皿中以纯水为溶液用超声波清洗机将低分子化合物清洗掉,再放置加热台上烘干从而暴露芯片表面。深圳季丰实验室部分Decap设备展示
芯片开封在失效分析中的应用案例分析
根据客户要求,将测试样品IC进行开封测试,开封后观察表面晶圆是否有烧痕、碳化等异常。
测试结果:试验后,失效样品与好品对比表面晶圆发现有不同程度的烧点,且由于化学试剂的配比有所不同,有可能造成腐蚀太过火腐蚀不到位置,如上图所示样品过于腐蚀造成IC表面铜走线脱落。
整合项目服务
1.专利分析鉴定
先进产品的线路布局技术和制程技术来讲,专利权的鉴定是高科技公司在保护知识产权时必要的手段,它通常关系到后续索赔及策略布局的咨询。可提供客户这类的分析鉴定的咨询服务。九游体育
2.分析实验室规划与建立
可以为客户建构符合实际需求的内部实验室,在合作之初,讨论一个适合客户专业领域应用的实验室规划方案,包括实验室 设备、采购、装机规划,实验室技术员培训及管理架构。
3.分析技术转移
针对特定分析的技术转移,提供培训课程和实际动手操作培训,同时提供标准操作流程..等相关技术文件与培训证书,作为技术转移的依据。
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